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涂層測厚儀測試結果受到影響的因素有哪些?
更新時間:2024-02-20 點擊次數(shù):259

  涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂(鍍)層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以準確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂(鍍)層厚度。采用磁性測厚法,可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

涂層測厚儀


  涂層測厚儀校準:
  1.校零
  1.1將探頭壓在基準塊上(或不帶涂層的測量物體上),再按一下校零鍵“ZERO”進行校零。在按“ZERO”鍵時,測量探頭在基準塊上不要晃動,且只有在按完“ZERO”鍵后,才能提起探頭,否則,校零不正確。
  1.2將測量探頭提起到1厘米以上,然后再將探頭以正常的速度壓在基準塊上(或不帶涂層的測量體上),若在同一點的測量值在“0”附近,說明校零成功,否則,應重新校零。
  2.校準校準校準校準
  2.1根據(jù)要測量的涂層厚度,選擇適當?shù)臉藴誓て?,進行校準。
  2.2先將標準膜片放在基準塊上(或不帶涂層的測量體上),再將測量探頭壓在標準膜片上,若顯示屏上測量值與標準膜片不同,測量值可通過“+”或“-”鍵來修正(通過“+”“-”鍵進行修正時,請?zhí)崞鹛筋^)。
  2.3為保證校準的準確性,可通過多次測量同一標準膜片來驗證。
  涂層測厚儀測試結果受到影響的因素:
  基體金屬磁化:磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響,應使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對儀器進行校對。
  基體金屬厚度:每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度,大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。
  邊緣效應:本儀器對試片表面形狀的陡變敏感,因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
  曲率:試件的曲率對測量有影響,這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
  表面粗糙度:基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時,在不同位置上增加測量的次數(shù),克服這種偶然誤差。

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